首页›标准库›GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁
首页›标准库›中国国家标准›GB/T 45721.1-2025

GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验

标准号GB/T 45721.1-2025
发布组织GB(中国国家标准)
发布年份2025
状态current
英文标题

范围说明



同类标准

GB/T 44671-2024GB/T 44507-2024GB/T 44501-2024GB/T 44575-2024GB/T 44581-2024GB/T 44515-2024GB/T 44514-2024GB/T 44521-2024GB/T 44517-2024GB/T 44529-2024GB/T 44346-2024GB/T 44478-2024GB/T 44482-2024GB/T 44448-2024GB/T 44480-2024GB/T 44487-2024
需要按本标准做检测或认证?
(此位预留,待合作机构入驻后填充)
本页涉及的技术要求通常需要第三方检测报告或认证证书。 我们正在与检测机构、认证咨询机构对接,为出口企业提供便捷通道。 了解合作方式

如何使用本标准信息

数据来源:中国国家标准。整理日期:2026-10-10。 本页标准信息用于检索与选型参考,不构成标准原文的替代,也不构成法律意义上的等效认定。 标准内容以发布机构出版的正式文本为准。