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GB/T 4937.10-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件

标准号GB/T 4937.10-2025
发布组织GB(中国国家标准)
发布年份2025
状态current
英文标题

范围说明



对应标准

匹配等级 A 紧密对应 · B/C 可能对应 · D 仅同类目 · E 无对应。对照关系为检索线索,不构成法律意义上的等效认定。
TCVN 11344-1:2016 高度可能 半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 1 部分:概述
TCVN 11344-10:2017 紧密对应 半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 10 部分:机械冲击
TCVN 11344-14:2017 高度可能 半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 14 部分:端子的稳健性(引线完整性)
TCVN 11344-15:2017 高度可能 半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 15 部分:通孔安装器件的耐焊接温度

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如何使用本标准信息

数据来源:中国国家标准。整理日期:2026-10-10。 本页标准信息用于检索与选型参考,不构成标准原文的替代,也不构成法律意义上的等效认定。 标准内容以发布机构出版的正式文本为准。