GB/T 4937.28-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分：静电放电（ESD）敏感度测试 带电器件模型（CDM） 器件级

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数据来源：中国国家标准。整理日期：2026-10-10。 本页标准信息用于检索与选型参考，不构成标准原文的替代，也不构成法律意义上的等效认定。 标准内容以发布机构出版的正式文本为准。