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GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查

标准号GB/T 4937.35-2024
发布组织GB(中国国家标准)
发布年份2024
状态current
英文标题

范围说明



对应标准

匹配等级 A 紧密对应 · B/C 可能对应 · D 仅同类目 · E 无对应。对照关系为检索线索,不构成法律意义上的等效认定。
TCVN 11344-35:2020 紧密对应 半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 35 部分:塑料封装电子元件的声学显微镜

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如何使用本标准信息

数据来源:中国国家标准。整理日期:2026-10-10。 本页标准信息用于检索与选型参考,不构成标准原文的替代,也不构成法律意义上的等效认定。 标准内容以发布机构出版的正式文本为准。