首页›标准库›YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射
首页›标准库›OTHER›YS/T 1160-2016

YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准号YS/T 1160-2016
发布组织OTHER(OTHER)
发布年份
状态current

范围说明

有色金属 | 工业和信息化部

同类标准

XB/T 815-2023XB/T 814-2023XB/T 813-2023XB/T 812-2023XB/T 811-2023XB/T 810-2023XB/T 809-2023XB/T 808-2023XB/T 403-2023YC/T 177-2024YC/T 541-2024YC/Z 615-2024YC/T 608-2024YC/T 607-2024YC/T 606-2024YC/T 605-2024
需要按本标准做检测或认证?
(此位预留,待合作机构入驻后填充)
本页涉及的技术要求通常需要第三方检测报告或认证证书。 我们正在与检测机构、认证咨询机构对接,为出口企业提供便捷通道。 了解合作方式

如何使用本标准信息

数据来源:OTHER。整理日期:2026-10-10。 本页标准信息用于检索与选型参考,不构成标准原文的替代,也不构成法律意义上的等效认定。 标准内容以发布机构出版的正式文本为准。