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GB/T 4937.36-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:
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GB/T 4937.36-2025
GB/T 4937.36-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度
标准号
GB/T 4937.36-2025
发布组织
GB(中国国家标准)
发布年份
2025
状态
current
英文标题
范围说明
对应标准
匹配等级 A 紧密对应 · B/C 可能对应 · D 仅同类目 · E 无对应。对照关系为检索线索,不构成法律意义上的等效认定。
TCVN 11344-30:2016
高度可能
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 30 部分:可靠性测试前非密封表面贴装器件的预处理
TCVN 11344-6:2016
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 6 部分:高温储存
TCVN 11344-31:2018
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 31 部分:塑料封装器件的可燃性(内部诱发)
TCVN 11344-33:2018
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 33 部分:加速防潮 – 无偏压高压釜
TCVN 11344-36:2018
紧密对应
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 36 部分:加速度,稳态
TCVN 11344-37:2018
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 37 部分:使用加速度计的板级跌落测试方法
TCVN 11344-5:2018
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 5 部分:稳态温度湿度偏置寿命测试
TCVN 11344-3:2017
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 3 部分:外部目视检查
TCVN 11344-4:2017
高度可能
半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 4 部分:湿热、稳态、高加速应力测试 (HAST)
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数据来源:中国国家标准。整理日期:2026-10-10。 本页标准信息用于检索与选型参考,
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